菲希爾代理、鍍層測厚儀XAN252

簡要描述：

菲希爾代理、鍍層測厚儀XAN252，高性能X射線熒光測量儀，配有先進的硅漂移探測(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

更新時間：2024-07-31

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廠商性質：經銷商

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品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產地類別	進口	應用領域	環(huán)保,生物產業(yè),制藥/生物制藥,綜合

菲希爾代理、鍍層測厚儀XAN252

菲希爾X射線鍍層測厚儀XAN252特點:

◆ 具有通用應用特性的高級模式

◆ 4 倍電子調節(jié)光圈（準直儀），6 倍電子調節(jié)初級濾光鏡

◆ 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復雜的多元素分析

◆ 由下至上的測量方向可以簡便地實現樣品定位

菲希爾X射線鍍層測厚儀XAN252典型應用領域:

◆ 對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能層進行分析

◆ 示蹤原子法分析為消費者提供保護，例如，玩具中的鉛含量

◆ 在珠寶行業(yè)和手選工段中高精度要求的金屬合金鑒定

◆ 在高校和工業(yè)領域中的研究

菲希爾代理、鍍層測厚儀XAN252

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