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    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

    簡要描述:
    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀,XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起,測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

    更新時間:2024-05-10

    訪問量:571

    廠商性質:經銷商

    生產地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
    產地類別進口應用領域環保,生物產業,制藥/生物制藥,綜合

    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

    無錫駿展儀器供應德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210特點

    • 堅固耐用的鍍層厚度測量設備,甚至可在較大的距離測量(DCM功能,范圍0-80 mm)工作

    • 固定光圈和固定濾光鏡

    • 用于1mm起大小的測量點

    • 底部C型開槽的大容量測量艙

    • 可編程的臺式設備,用于自動測量

    • 標準X射線管,比例計數器

    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210測厚儀

    德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210典型應用領域

    • 測量大規模生產的電鍍零件

    • 防腐鍍層和裝飾性鍍層,如鎳/銅上的鉻

    • 電鍍工業中電鍍液的分析

    • 黃金、珠寶和鐘表工業


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