MINITEST740測厚儀

簡要描述：

MINITEST740測厚儀，SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的奠定了新標準。

更新時間：2024-03-14

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廠商性質：經銷商

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產品介紹：

品牌	ElektroPhysik/德國EPK	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	環保,綜合

MINITEST740測厚儀

MiniTest 740 EPK涂層測厚儀無錫駿展儀器供應為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有抗干擾性
無錫駿展儀器供應MINITEST740任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有抗干擾能力。

MiniTest 740 EPK涂層測厚儀 SIDSP-測量信號高穩定性
EPK的SIDSP探頭具有重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP探頭的優良性能。

MiniTest 740 EPK涂層測厚儀SIDSP探頭特征曲線
在生產過程中，EPK的SIDSP探頭要經過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內都十分精準，將測量錯誤降至低。