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    Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀

    Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀

    簡要描述:
    Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀,通過組合可選的高壓和濾片,可以對較薄的鍍層(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.

    更新時間:2024-02-21

    訪問量:663

    廠商性質:經銷商

    生產地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
    產地類別進口應用領域環保,制藥/生物制藥,綜合

    Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀

    菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XDL 240特點

    § 用途廣泛的鍍層厚度測量儀

    § 通過組合可選的高壓和濾片,可以對較薄的鍍層(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.

    § 配有的微聚焦管,可以測量100 μm大小的微小測量點

    § 比例計數器可實現數千cps(每秒計數率)的高計數率

    § 從下至上的射線方向,從而可以快速簡便的放置樣品。

    § 底部C型開槽的大容量測量艙

    菲希爾X射線測厚儀

    菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XDL 240典型應用領域

    § 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層

    § 電子行業中接插件和觸點上的鍍層

    § 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS

    § 電鍍鍍層,如大規模生產零件(螺栓和螺母)上的防腐蝕保護層Zn/Fe,ZnNi/Fe

    § 珠寶和鐘表工業

    § 測量電鍍液中金屬成分含量


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