TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度儀

TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和可追溯性-所提供的標(biāo)準(zhǔn)能夠用于校正儀器和檢查測(cè)針磨損，以確保總能夠得到*準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

測(cè)量         最佳測(cè)量能力

粗糙度標(biāo)準(zhǔn)(Ra)    ±(2% + 0.004 μm)

工件或者元件表面(Ra)  一次測(cè)量值±3%

Surtronic S100系列S116、S128泰勒粗糙度儀技術(shù)參數(shù)

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)量范圍S116：200μm

 S128：400μm

Surtronic S128分辨率5nm

泰勒霍普森粗糙度測(cè)量?jī)x傳感器類(lèi)型電感

泰勒霍普森代理鉆石尖半徑缺省5μm 可選2μm、10μm

Surtronic S116觸摸屏4.3英寸 彩色

Surtronic S116觀察方向隨意變換

Surtronic S116取樣長(zhǎng)度0.25、0.8、2.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀濾波器2CR或GAUSS

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)量行程0.25-25.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀接口USB，miniUSB

電源鋰電池

一次充電可以測(cè)量2000次

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國(guó),英國(guó),德國(guó)和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測(cè)量工具測(cè)量工具和其他類(lèi)型的測(cè)試設(shè)備,努力為客戶(hù)解決快速分析的測(cè)量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。