金屬鍍層測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230菲希爾X射線測(cè)厚儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

金屬鍍層測(cè)厚儀XDL230配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當(dāng)測(cè)量門開(kāi)啟時(shí)，XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)量點(diǎn)位置。對(duì)于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開(kāi)口（C形槽）。由于測(cè)量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測(cè)量平面平整的物體，也可以測(cè)量形狀復(fù)雜的大樣品（樣品高度可達(dá)140mm）。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，測(cè)量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測(cè)量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體